AFM-IR（原子力红外技术）探针悬臂的刚性对测量的影响？
答案:1 悬赏:10 手机版
解决时间 2021-02-03 12:50
- 提问者网友：留有余香
- 2021-02-02 12:18
AFM-IR（原子力红外技术）探针悬臂的刚性对测量的影响？
最佳答案
- 五星知识达人网友：大漠
- 2021-02-02 13:57
对于扫形貌用的半径只有几纳米的探针，只能用TEM测。对于几百纳米甚至微米的探针，用SEM。这些都是先照图片，再根据比例估算，不是太准。据说比较准的是用探针扫描碳纳米管，计算碳管宽度变化来反推探针半径。也有用极精密的探针在大探针上扫形貌直接测量大探针半径。
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