噪声如何影响触摸屏系统 - 如何测量电容式触摸屏的实际信噪比

噪声如何影响触摸屏系统 - 如何测量电容式触摸屏的实际信噪比

信噪比是触摸屏控制器的性能指标，现在已经作为行业标准被大家接受。信噪比的问题是没有任何行业标准的测量、计算、报告方法，尤其是在某些典型系统中，噪声具有高可变性的情况下，例如移动电话。工业电容屏定制行家，183的号，中间四位是2005 ，后面四位9375。全触通。
这两个部分(信号和噪声)的测量和计算很大程度上依赖于被测装置(DUT)，有代表性的是移动电话。值得注意的是，虽然信噪比作为性能衡量已被广泛接受，行业专家明白，大多数市场宣扬的高信噪比放到实际应用中并不能保证。此外，在噪声环境下，提供高信噪比也不能完全符合其功能规范。
在电容式触摸屏中，信噪比中信号就是加上测量到的手指电容后的实际电容的变化量。手指电容取决于传感器覆盖物厚度、手指大小，DUT到地的寄生电容，以及传感器模式。噪声成分依赖于内部控制器噪声和外部噪声源，本文将会就这些方面进行讨论。
投射式电容触摸屏触摸技术已应用在很多新型智能手机中，触摸传感器使用时都会遇到噪声。噪声从显示器(可能是LCD或AMOLED)耦合到触摸传感器，距离越近噪声越大。不像模拟显示那样同步，这类LCD噪声通常是尖峰噪声。USB充电器噪声通常也是也尖峰噪声。它也是最容易变化的，因为在每个设备中AC/DC变压器的结构和组件是不同的。

噪声如何影响触摸屏系统 不好的信噪比会影响系统的鲁棒性，造成假触摸和位置跳动。手指靠近触摸屏时会干扰相交的两个透明电极的边缘电场。这种电容称为互电容。这就改变了传感器的电容。交叉点发生在发射和接收电极直角交叉处。在手机触摸屏上有好几百个这样的交叉点。触摸屏控制器测量所有交叉点电容的变化，并把测量数据转换成量化的原始数据。通过测量每个交叉点，而不是整个电极，控制器就能够创建一个二维的触摸屏传感器电容图表。 如果在手指附近交叉点发生一个大的噪声尖峰，那么在位置计算算法就会添加一个错误标志。然后该算法转换原始数据到坐标;根据噪声峰值大小，手指位置报告的坐标可能是抖动，当手指静止，可能在两坐标间交替。当智能手机使用触摸屏接口，插到USB充电器时，某些无意识的输入或选择可能会出现这些情况。 我们可以断定，在缺少规范化测量方法时，信噪比可以作为性能度量，但并不完美。这里有定义好了的性能指标，测量步骤，计算方法，触摸屏控制器供应商（见赛普拉斯规范001-49389）和移动设备OEM可以使用来量化触摸性能。这些规范是必要的，可以保证可重复的试验结果，验证触摸屏性能，减少触摸屏测试硬件和固件变化。 典型的性能测试除了触摸屏硬件和控制器接口外还需要金属手指模拟器，夹具，示波器，函数发生器，自动机械。例如，标准的抖动测量过程分为七步，记录手指位置坐标上的时间噪声。这里的测量表明有多大运动，多少距离，我们会期望是不动的手指。这是一个相对简单的参数测量，它直接并立即在用户界面产生影响。相比之下，信噪比的影响在触摸屏性能上就不那么直接了。即使在噪声环境下，数字滤波器和位置计算算法也能够去除抖动，就是降低了信噪比值（作为一种性能度量）。把信噪比作为一个性能指标是不可取的，因为它不能最终给你一个真正意义上的系统性能。 本文是想告诉大家，不要以点见面，以偏概全，信噪比并不能告诉我们系统是否很好地响应触摸。这就是为什么触摸控制器领先制造商，如赛普拉斯TrueTouch，有一套测试和测量方法来评估新的触摸屏设计的性能。