膜厚仪与涂层测厚仪的差别

膜厚仪与涂层测厚仪的差别

膜厚仪一般来说和涂层测厚仪是一类产品。膜厚仪一般是测氧化膜层厚度，常见的铝基，铜基氧化，测量时候用涂层测厚仪选择N（非磁性）探头，这样测铝基等氧化层也称为膜厚仪。涂层测厚仪正常情况下有两种测量原理，配F合N探头，或者FN一体探头。氧化层一般是几微米到十几微米，但是普通的涂层测厚仪误差比较大，需要用高精度的涂层测厚仪测量氧化层，比如中科朴道的PD-CT2涂层测厚仪就可以测量氧化层。两者是只是根据材料有细微区别，不过现在使用者很多不了解，也相互称呼。