什么是snap back现象
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解决时间 2021-03-05 03:12
- 提问者网友:蓝琪梦莎
- 2021-03-04 07:27
什么是snap back现象
最佳答案
- 五星知识达人网友:不如潦草
- 2021-03-04 07:47
在饱和区域电压上升的速度比在线性区域的时候要快,当电场达到了碰撞电离阈值时,空穴就产生了。空穴电流从可以忽略不计到足够大,并且占据总电流一定份额时,电压就会下降,负阻或snapback 特征就会呈现出来。加在电阻上的电压大约150kV/cm 时就会发生碰撞电离,也就是说2um 长的电阻最大承受电压约为30V。引起snapback的碰撞电离由NB来决定(即背景或衬底掺杂浓度),它会影响引发电阻snapback的电压值。当然snapback也可能是在饱和区域时由载流子发热引起的。
现在,假设nwell 方块电阻RSH = 1K ohms/sq (电导率),通过公式 ,其中电子电荷1.602E-19c, 室温低杂质硅电子迁移率约为33750px^2/sv, 空穴迁移率约为11500px^2/sv,由此得出电子浓度约为4.624E+18/cm^3,该值介于1E+10与1E+20之间,在逐步增加电压时,会出现饱和状态,并呈现如图1的特征。假设硅室温下本征载流子浓度约为2E+10/cm^3,我们还可以得出空穴浓度约为0.865E+2/cm^3。
现在,假设nwell 方块电阻RSH = 1K ohms/sq (电导率),通过公式 ,其中电子电荷1.602E-19c, 室温低杂质硅电子迁移率约为33750px^2/sv, 空穴迁移率约为11500px^2/sv,由此得出电子浓度约为4.624E+18/cm^3,该值介于1E+10与1E+20之间,在逐步增加电压时,会出现饱和状态,并呈现如图1的特征。假设硅室温下本征载流子浓度约为2E+10/cm^3,我们还可以得出空穴浓度约为0.865E+2/cm^3。
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- 1楼网友:等灯
- 2021-03-04 08:18
spare button to be attached in a small snap lock plastic bag-- bulletted into the back main label
备用纽扣附于一个小的塑料袋内---放入主商标的背面
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