大学物理厚度干涉求薄膜厚度的问题!急用~!在线等!

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在Si的平表面上氧化了一层厚度均匀的SiO2薄膜,为了测量薄膜厚度,将它的一部分磨成劈形,先用波长为550nm的平行光垂直照射,观察反射光形成的等候干涉条纹,在图中AB段共有6条暗纹,且B处恰好是一条暗纹,求薄膜的厚度!（Si折射率为3.42 SiO2折射率为1.5）

等厚干涉重要的一个结论是\x08相邻条纹间隔永远是半波长
那么此题6个条纹于是7个间隔,6*1.5*550nm=5.775um[micro-meter].
这题难点在于判断六个条纹到底是几个间隔,也就是说在那个暗纹是否算在那六个之内,取6个或者7个都是可以.
再问： 上下表面反射都有相位突变p，计算光程差时不必考虑附加的半波长. 设膜厚为e , B处为暗纹， 2ne＝( 2k＋1 )l， (k＝0，1，2，…) A处为明纹，B处第6个暗纹对应上式k＝5 ＝1.0×10-3 mm 这个是题目给的答案 但是我没看懂 那个k为什么等于5 不解
再答： 这个公式给出的是暗条纹的图，k=0,1,2,3,4,5总共6个明条纹。也就是A处是'0'级而B处是第'5'级。 但是你的公式给的有问题啊。l应该是λ/2，要不然相邻条纹之间的厚度差变成了一个波长，显然是不对的。 倒是我给你的计算有一个地方错了，应该是除以折射率而不是乘以它，而且应该是用半波长，当时有点犯迷糊。改正一下就是 (5+0.5)*550/2/1.5=1008.33 nm= 10^-3 mm 5是6个暗条纹之间的距离，0.5是暗条纹和明条纹中心的距离，550/2/1.5是玻璃中的半波长。 如果按照你给的公式算的话注意把l改成λ/2即可