从干涉条纹判断被测表面是否平整

从干涉条纹判断被测表面是否平整

上面一块光洁度高的板的下表面与待测面之间的空气层形成薄膜干涉.
若待测面光洁度也高,在上板观测到的亮线与暗线平行.
若待测面有突起,此处对应的光程差小于此点未突起时的光程差,所以这点的光程差与靠近劈尖的尖部某点的光程差相同,所以这点未突起时对应条痕若是亮的,现在就变暗(若原是暗的,现在就变亮),所以这点对应的条痕弯向劈尖厚部.同样分析,可知这点凹陷时,条痕弯向劈尖尖部.

.......................kλ , k=1,2,3…(加强) δr=2nd+λ/2= ......................(2k+1)λ/2 ,k=0,1,2….(减弱) 干涉纹向劈形尖的那段弯曲意味着原本应该出现某一级（即k的值）干涉条纹的地方已被更高级次的干涉条纹所代替，而干涉条纹的级次越高，对应处的薄膜厚度越大，所以平板上该处应向下凹。